Materiales y Ensayos
Caracterización de defectos en joyería
Utilizamos FIB-SEM y XPS para caracterizar defectos en capas finas metálicas de piezas de alta joyería y buscar el origen del fallo.
Descubre cómo ayudamos a nuestros clientes a mejorar sus procesos y productos y mejorar la competitividad de su negocio.