Proyecto

Caracterización de defectos en joyería

Utilizamos FIB-SEM y XPS para caracterizar defectos en capas finas metálicas de piezas de alta joyería y buscar el origen del fallo.

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Objetivo. Conocer el origen del defecto en piezas de alta joyería

Nuestro cliente, un fabricante de joyería, ha detectado la aparición de manchas en la superficie metálica en una de sus piezas. Este fallo, no ha sido único y se ha producido también en las siguientes tiradas de su producción. Se trata de un problema urgente y del que se necesita conocer el origen para poder actuar con rapidez.

Solución. Caracterizamos por FIB-SEM y XPS y buscamos el origen

La clave del éxito en este proyecto fue la rapidez y la agilidad para resolver el problema de nuestro cliente. En primer lugar, se realizó la selección de las técnicas de caracterización que mejor encajaban con este problema de calidad. Se definieron dos técnicas: FIB-SEM y XPS. Estas técnicas las aplicamos en piezas con el fallo y en piezas sin fallo.

Durante la caracterización por FIB-SEM, al realizar el corte por iones, pudimos observar que el defecto aparecía en las capas más superficiales. Además, realizamos un análisis de la composición química mediante EDX en estas capas para conocer si había habido algún tipo de contaminación ó elemento extraño.

En la caracterización por XPS, donde analizamos la composición en los primeros 5-10 nm, pudimos observar que los elementos Cr y Fe, en el caso de muestras con defectos se encontraban en estado de oxidación tipo III y en las muestras sin defecto en estado tipo 0.

También se localizaron trazas de un elemento que puede causar corrosión por picaduras y dar lugar a iones metálicos generando una diferencia de potencial eléctrico pudiendo causar la oxidación.

El análisis conjunto de resultados de FIB-SEM, EDX y XPS nos permitió identificar el origen del fallo y que nuestro cliente pudiera tomar las acciones necesarias en su proceso productivo para que este defecto no vuelva a ocurrir.

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